7-8 июня в г. Лыткарино прошла 19-я Всероссийская научно-техническая конференция «Радиационная стойкость электронных систем» - «СТОЙКОСТЬ-2016»

      Научно-техническая конференция «Стойкость», организуемая АО «НИИП», ежегодно собирает ведущих специалистов научно-исследовательских институтов Росатома, Роскосмоса, предприятий Минобороны РФ, Российской академии наук, Высшей школы, таких как ФГУП «РФЯЦ-ВНИИЭФ», ФГУП «ВНИИА им. Н.Л. Духова», АО «РНИИ «Электронстандарт», ОАО «НПП «Пульсар», Филиал ОАО «ОРКК» - «НИИ КП», АО «РКС», ФГУП «НПО им. С.А. Лавочкина», ФГУП «12 ЦНИИ» МО РФ, НИИСИ РАН, ИКИ РАН, НИЯУ МИФИ, АО «ЭНПО СПЭЛС», ННГУ им. Лобачевского. В этом году в работе конференции приняли участие 240 человек из 65 организаций и 26 городов России.
      Тематика конференции определяет основные направления развития испытаний изделий электронной техники и радиоэлектронной аппаратуры на радиационную стойкость. В программу конференции вошли 138 доклада, в том числе 18 устных и 120 стендовых докладов. Представленные доклады и предложения, высказанные в дискуссиях, показали высокую заинтересованность специалистов в решении актуальных задач при проведении радиационных испытаний.
      Участники отметили высокий организационный и научно-технический уровень, а также практическую ценность конференции. В завершение председатель Программного комитета конференции, заместитель директора по науке АО «НИИП» Виктор Николаевич Улимов подвел итоги: «За прошедший год значительно вырос объем радиационных испытаний изделий электронной техники, расширилась вовлеченность предприятий и организаций России в проведение испытаний на радиационную стойкость. Основной задачей на ближайший период является разработка методов испытаний новых сложных изделий отечественной и зарубежной электротехники».