ПРОВЕДЕНИЕ ИСПЫТАНИЙ НА РАДИАЦИОННУЮ СТОЙКОСТЬ
ИЗДЕЛИЙ ЭЛЕКТРОННОЙ ТЕХНИКИ И РАДИОЭЛЕКТРОННОЙ АППАРАТУРЫ

• Структура
• Услуги
• Оборудование
• Система менеджмента качества
   

Структура Управления радиационных испытаний

Услуги

• Исследования и радиационные испытания электронной компонентной базы (ЭКБ) и радиоэлектронной аппаратуры (РЭА) объектов военной и космической техники.
• Испытания изделий электронной техники (ИЭТ) на стойкость к воздействию ионизирующего излучения.
• Испытания ИЭТ на электрическую прочность.
• Исследования с целью повышения радиационной стойкости ИЭТ.
• Исследования для развития и создания новых методов оценки радиационной стойкости ЭКБ и РЭА.
• Научно-исследовательские работы в области разработки методов испытаний, исследований радиационных эффектов в ИЭТ на новых физических принципах, новых материалах.
• Разработка и аттестация методик измерения характеристик полей ионизирующих излучений ядерно-энергетических, изотопных и электрофизических установок.
• Проведение научно-исследовательских и опытно-конструкторских работ в области радиационной стойкости изделий электронной техники и радиоэлектронной аппаратуры.
• Разработка и исследование детекторов ионизирующих излучений.
• Создание автоматизированных тестовых систем контроля параметров изделий электронной техники.
• Разработка программ и методик испытаний изделий электронной техники и радиоэлектронной аппаратуры, методов контроля параметров изделий электронной техники (в т.ч. во время воздействия ионизирующих излучений).
• Экспертная оценка и выпуск заключений о радиационной стойкости ИЭТ.

Диагностическое оборудование и средства измерений
для проведения радиационных испытаний всех классов ЭКБ

Универсальная контрольно-измерительная система Formula TT2 Предназначена для автоматизированной проверки статических параметров полупроводниковых приборов: полевых и биполярных транзисторов, диодов, тиристоров, стабилитронов, оптронов, а также микросборок.
Тестер FORMULA® HF3–512 Предназначен для функционального и параметрического контроля быстродействующих СБИС широкой номенклатуры: микроконтроллеров, статической и динамической памяти (ЗУ), СБИС на БМК, ASICs, ПЛИС и др. с числом сигнальных выводов до 256/512 и частотой функционирования до 200 МГц. Тестеры Formula TT2 и FORMULA® HF3–512 эксплуатируются с системой типа «Термострим» для обеспечения температурного режима изделий при измерениях.
Анализатор/характериограф B1505A Применяется для исследования характеристик полупроводниковых элементов и интегральных микросхем. Пределы задания и измерения напряжения: от 1 мкВ до 3 кВ, пределы задания и измерения тока от 10 фА до 1 А.
Контрольно-измерительные системы на базе модульных приборов PXI Используются для задания режимов и измерения параметров всех классов ЭКБ. Модульная система позволяет оперативно конфигурировать измерительный комплекс под текущие задачи. Программное обеспечение LabVIEW позволяет создавать комплексные системы автоматизированного измерения параметров и проводить контроль всего перечня параметров-критериев годности непосредственно во время испытаний.
Конфигурируемая система на базе прецизионных источников питания Keysight B2902А, мощных источников питания серии N6705C и электронных нагрузок фирмы Keysight серии N3300A Применяется для проведения испытаний мощных устройств, таких как источники вторичного электропитания стабилизаторы, радиоэлектронная аппаратура и т.п.