Доклад с участием сотрудников АО «НИИП» (входит в научный дивизион Госкорпорации «Росатом» - АО «Наука и инновации») представлен на ведущей Европейской конференции по надежности электронных устройств, физике отказов и анализу (European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis – ESREF 2021), которая прошла с 4 по 8 октября в онлайн-формате при поддержке лаборатории IMS, Университета Бордо в сотрудничестве с лабораторией LAAS-CNRS и Университетом Тулузы (Франция).
В девяти секциях было представлено 112 докладов из 21 страны (Франции, Китая, Италии, Германии, Японии, Бразилии, США и др.), в том числе один доклад из России. Коллектив авторов из АО «НИИП», АО НПП «Квант», МИСиС, МИФИ, МИРЭА (Мария Рябцева, Александр Петров, Георгий Воеводкин, Константин Таперо, Наргиза Вагапова, Максим Баньковский) представил доклад «Деградация трёхкаскадных фотоэлектрических преобразователей на основе AIIIBV/Ge в результате воздействия гамма-квантов, электронов и нейтронов».
Начальник отдела АО «НИИП» Александр Петров, один из авторов, успешно представил доклад по результатам исследования воздействия электронов, нейтронов и гамма-квантов на выходные характеристики трёхкаскадных фотоэлектрических преобразователей на основе AIIIBV/Ge.
«Мы регулярно представляем результаты наших исследований на данной конференции. Высокой оценкой нашей работы является факт принятия доклада, т.к. около 30% присылаемых докладов отклоняются на этапе рецензирования, что говорит о тщательном отборе и высоком качестве материалов конференции. В дальнейшем этот доклад будет опубликован в журнале Microelectronics Reliability, который входит в международные реферативные базы издательства Elsevier», - отметил докладчик.